| Деталь производителя | SN74LVTH182512DGGR |
|---|---|
| Производитель | Texas Instruments |
| Описание | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| Категория | 7bf2084fde7f81e2912434fdfffb4148 |
| RoHS | Без свинца / соответствует требованиям RoHS |
| Гарантия | 365 дней |
| Тип | Описание |
|---|---|
| ряд: | 74LVTH |
| упаковка: | Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT) |
| статус детали: | Active |
| тип логики: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| напряжение питания: | 2.7V ~ 3.6V |
| количество бит: | 18 |
| Рабочая Температура: | -40°C ~ 85°C |
| тип крепления: | Surface Mount |
| упаковка / чехол: | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| пакет устройств поставщика: | 64-TSSOP |
| Способ оплаты | Плата за руку |
| Телеграфный перевод | Запросить услугу |
| Paypal | 4% fee |
| Credit Card | 4% fee |
| Western Union | Бесплатно |
| Money Gram | Бесплатно |
| Тип доставки | Время выполнения |
| DHL | 2-5 дней |
| Fedex | 2-5 дней |
| UPS | 2-5 дней |
| TNT | 2-6 дней |
| EMS | 3-7 дней |
| Заказной авиапочтой | 20-35 дней |
IC OPAMP JFET 2 CIRCUIT 8SOIC
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
IC TRANSCEIVER HALF 1/1 8DIP
N-CH MOSFET SWITCH DRIVER
QUAD, SPST ANALOG SWITCH
10MBIT/S LOGIC DUAL CHANNEL HIGH
IC DRAM 512MBIT PAR 54TSOP II
